为了预防工业设备在高速运作时，导致闪存在同一储存区块执行大量读取任务时导致读取干扰(Read Disturbance)、区块损坏和错误数据的产生。威刚整合Early Remove、Early Retire、Read Count三项技术，为行业客户提供A+ Retention独家解决方案，配备ECC纠错功能，提供更高的数据完整性和延长工业设备寿命。
A⁺ Retention - 监控读取任务 数据万无一失
Early Remove
当控制器读取到Flash块中的数据错误率达到70%以上时，Early Remove技术会将数据移动到新的区块，原区块则被擦除作为备用，从而延长使用寿命。
Early Retire
当控制器读取到Flash块中的数据错误率达到90%以上时，Early Retire技术会将数据移动到新的区块后使原始块无效，以避免可能导致数据丢失的块损坏。
Read Count
读取计数可预防读取干扰，若某个块中存储的数据被过度读取多次，存储在周围块中的数据将会受到影响（潜在变化0->1或1->0），从而触发控制器读取计数机制。当读取计超过阈值时，受影响的区块将被复制并移动到新块，原区块则被擦除作为备用，以延长预期寿命。
