坏块与来源

固态硬盘的闪存颗粒是由一个个小小的闪存块组成的，闪存块则会有好有坏。固态硬盘的闪存坏块来源主要有两方面：

出厂坏块（Factory Original Bad Block）

由晶圆经过检测、切割、封装等很多工艺流程才会封装成闪存颗粒（闪存芯片），在这过程中，闪存颗粒里面可能会产生坏块，这类坏块由于技术因素无可避免。

后期增长坏块（Later Bad Block）

随着使用固态硬盘的时间推移，固态硬盘里一些原本好的Block也会因为在使用过程中磨损或发生一些如异常掉电等意外状况而变成坏块。

如何鉴别坏块

威刚有专门的测试设备和软硬件来鉴别闪存中的坏块，并对坏块做特殊标记：

1、若出厂含有坏区块，威刚会在坏区块的Spare Area(Spare Column)或Data Area(Main Array)指定的地址写入非FFh的数据(例00h)，通常为每个区块的第一个Page(或第二个Page或最后一个Page)的第一个Byte含有非FFh的数据，则该区块为坏区块，用以识别出厂时的好区块与坏区块，这就是所谓的坏区块标示(Bad或Invalid Block Mark)。

2、如果在使用固态硬盘的过程中，出现擦除失败、写失败、读到UECC(Uncorrectable Error Correction Code,数据没有办法通过ECC纠错恢复）等，基本都是闪存出现坏块的症状，需要将这些坏块加入到坏块表，不再尝试使用它们。

坏块管理的两种运作策略

略过策略（Skip Block Method）

用户根据建立的坏块表，在写Flash的时候，一旦遇到坏块，跨过它，写下一个Block。

替换策略（Reserved Block Area Method）

威刚的作法是当在某个区域上发现坏块时，控制器会将预留的某个spare block 将其替换，而坏块被标识并写入坏块表且不再被使用；那么当以后用户写入数据时，而是将数据写到相应的替换块上。